Y.MU2000-D已經證明自身是市場上的解決方案。其配備現代數字平板探測器和Y.HDR檢測技術,提供具有高對比度顯示的優質圖像,現在可以升級到計算機斷層掃描系統。
基于解耦操縱器的概念,X射線管和檢測器可從檢驗項目獨立移動,優化利用Y.MU2000-D檢測封包,在低空間要求檢查大型零部件。在不改變焦點-探測器距離(FDD)可能進行X光檢測時,光束垂直移動和傾斜,因為X射線管和探測器被相互安裝在U型臂上。
Y.MU2000-D 既可以用來做單個樣品的檢測也可以做系列樣品的檢測。即使對于鋼鐵,鋁,陶瓷,塑料和橡膠以外的其他材料,它都能提供高水平的材料檢測能力。
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